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    • 掃描開爾文探針

      開爾文探針(Kelvin Probe)是一種非接觸無損震蕩電容裝置,用于測量導體材料的功函數(Work Function)或半導體、絕緣表面的表面勢(Surface Potential)。材料表面的功函數通常由上層的1-3層原子或分子決定,所以開爾文探針是一種的表面分析技術。主要型號:KP020 (單點開爾文探針),SKP5050(掃描開爾文探針)。

      更新時間:2020-11-01

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